規格詳情
產品詳情
全國首創的多項專利技術 , 將標準溶液經超音波霧化器轉化為標準氣膠 , 可精確控制其質量濃度 、粒徑 、 成分及濕度 , 可校準多種微粒成分,最低可達奈克級質量濃度 , 有效解決氣膠監測的誤差與校驗難題 , 確保監測結果精準可信 。
發生微粒粒徑範圍:< 10 um | 發生流量:15 ~ 40 L/min | 質量濃度範圍:1 ~ 400 μg/m3 質量濃度精度:≦ 3% | 質量濃度誤差:± 3% | 粒徑幾何標準差:1.2 ±0.1
本研究由臺灣大學公共衛生學院環境與職業健康科學研究所黃盛修教授與復旦大學環境科學與工程系黃侃教授團隊共同合作完成 , 從學術角度系統性地提出並驗證一套創新的氣膠校準系統 – STA標準微粒技術 PAMAS 專為環境空氣中連續型氣膠監測儀器設計(如 BAM、TEOM、OC/EC 等) , 突破傳統僅針對感測模組進行單點校準的局限,首次提出可涵蓋取樣口、採樣管線、前處理單元與感測器模組在內的全流程校準方法( Whole-Process Calibration Approach ) , 能有效辨識與補償實際測量環節中潛在的損失 、 偏差與干擾 , 為微粒監測資料建立更高準確性與可溯源性之技術基礎 。
微粒質控校驗系統標準微粒發生裝置
可設定微粒的質量濃度 、 粒徑、 成分, 並且三個核心參數均可溯源
流體動力學(CFD)
電子顯微鏡(TEM)
中國環境監測總站
中國計量科學研究院
MTL全自動稱重系統
(含7位數字天平)
FRM:PQ200 採樣裝置
FEM:Metone 1022
精密度及準確度皆小於3%
產品規格 PRODUCT SPECIFICATIONS
氣膠與氣體監測儀校準
重金屬儀校準
OC/EC校準
微粒感測器校準
微粒質控校驗系統
Model: STA-40M
便攜式微粒質控系統
Model: STA-20AC
定點式微粒質控系統
Model: STA-20LE